バルクデータエントリ 時間依存の材料挙動が関与する非線形解析のパラメータを定義します。
フォーマット
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| VISCO |
ID |
CETOL |
TINT |
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例
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| VISCO |
2 |
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定義
| フィールド |
内容 |
SI単位の例 |
| ID |
それぞれのVISCOバルクデータカードには固有のIDが必要です。 デフォルトなし（整数 > 0） |
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| CETOL |
粘弾性の時間積分用のトレランス。粘弾性 / クリープひずみの増分が、指定したトレランスで制御されるようになります。 指定されていないかゼロの場合、固定の時間積分が使用されます。 デフォルトなし（実数 ≥ 0） 2
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| TINT |
クリープの式を解くための数値的時間積分スキーム。 3
- IMPL（デフォルト）
- 後退オイラー法（陰的オイラー法）
- XPL
- 前進オイラー法（陽的オイラー法）
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コメント
- サブケースセクション内でVISCOバルクデータエントリを参照すると、そのサブケース内で粘弾性 / クリープ解析をアクティブにするかどうかを指定できます。
- CETOL は、時間の増分サイズを制御するための許容誤差です。
- 粘弾性 / クリープひずみの増分が、指定したトレランスで制御されるようになります。
- 応力がクリープひずみ速度に大きく影響を与えるような状況において、CETOLを見積もる1つの方法として、これを応力の許容誤差を代表的な弾性係数で割った値に設定する方法があります。
- 現在、CETOL は、微小変位非線形解析（SMDISP）のみをサポートしています。
- クリープの問題は、多くの場合、陽解法により効果的に解かれます。これは、陰解法と異なり、反復が不要なため、計算効率に優れています。ただし、陽解法は最大時間ステップサイズに制限があるため、条件付きで安定します。
